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研究会3
日 時 1月26日(水)14:00−18:00
場 所 名古屋大学ベンチャービジネスラボラトリー 4階セミナー室
出席者 20名
議事
1.ご講演を下記の2名の方に行なっていただいた。
「松下電器における光計測・診断技術について」
松下電器産業(株) 野村剛委員
「逆問題:入門と適用例−評価・診断への適用の可能性」
名古屋大学 川合忠雄幹事
ご講演内容について委員の方からは専門的なご質問、ご意見をいただいた。
2.その他
(1)研究会参加費の件
趣旨:研究会において様々な分野の専門家の方にご講演をいただく際の交通費、謝礼に充てる費用を会費として徴収したい。
会費:1人年間の会費として2000円(大学間系)、5000円(企業間系)
・会費の徴収の仕方について企業の方から出しやすい形にしてほしいとの要望があった。
・会費をいただくことが了承された。
(2)機械学会全国大会併催の国際シンポジウムについて 現在の進行状況および招待者のリストについて河村委員から説明があり、研究会としても協力していくことになった。
次回予定:2000年4月

●講演内容の概略
【講演1】
講演テーマ:「松下電器における光計測・診断技術について」
講演者:松下電器産業(株) 野村剛委員
講演内容:
(1)プリント基盤の穴検査、(2)パターン検査、(3)セラミックの欠陥検査および(4)多機能シャドウマスクの検査装置について講演した。
(1)についてはゴミつまり、穴小、穴無しが問題となるが、照度補正、データの平滑化、CADデータとの照合によって認識精度の向上と高速化をはかった。
(2)については設計上の問題から良品なのに欠陥と見なされることが最大の問題であり、このための確認作業に多くの時間を必要としている。確認作業の自動化を行なうことにより、全体の効率アップをはかった。
(3)については、セラミックの欠陥を検知するために光をセラミックに浸透させ、でてくる浸み出し光を測定することによって欠陥を検知することが可能となった。
(4)については孔の過大(特に大孔大:孔の上部が過大)・過小、異物の混入、シミが問題となっている。孔小と異物の混入は区別しにくい課題であった。複数の視線で確認する、落斜照明による検査、材料特性に着目した検査を導入することによってこれらの課題を克服した。
【講演2】
講演テーマ:「逆問題:入門と適用例−評価・診断への適用の可能性」
講演者:名古屋大学 川合忠雄幹事
講演内容:
逆問題について、(1)これはどのような問題であるのか、(2)逆問題に特有の不適切性およびその原因、(3)不適切性を緩和しつつ逆問題を解く方法、 (4)実際の適用例について説明した。計測点数を増やしても測定結果の精度が上がらないという矛盾や誤差によって解がばらついてしまうという逆問題特有のむずかしさについて述べた。また、逆問題は一種の最適化問題とも考えることができ、解を求めるために種々の最適化手法を適用可能であることにも触れた。
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